GB/T 5201-2012
Процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 5201-2012

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2012

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 5201-2012

заменять

GB/T 5201-1994

сфера применения

Этот стандарт определяет методы измерения электрических характеристик и характеристик ядерного излучения полупроводниковых детекторов заряженных частиц, а также методы испытаний для некоторых особых сред. Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы с частично обедненными слоями заряженных частиц. Измерения полностью обедненных полупроводниковых детекторов можно проводить со ссылкой на этот стандарт.

GB/T 5201-2012 Ссылочный документ

• GB/T 10263-2006  Условия окружающей среды и процедуры испытаний детекторов ядерного излучения
• GB/T 13178-2008  Детекторы с частично обедненным золото-кремниевым поверхностным барьером
• GB/T 4960.6-2008  Глоссарий терминов ядерной науки и технологий. Часть 6: Ядерное приборостроение.

GB/T 5201-2012 История

• 2012 GB/T 5201-2012 Процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц
• 1994 GB/T 5201-1994 Процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц