GB/T 5201-1994
Процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 5201-1994
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1994
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2012-11
- быть заменен
- GB/T 5201-2012
- Последняя версия
- GB/T 5201-2012
- сфера применения
- Этот стандарт определяет методы испытаний электрических характеристик и характеристик ядерного излучения полупроводниковых детекторов заряженных частиц, а также методы испытаний для некоторых особых сред. Настоящий стандарт распространяется на частично обедненные золото-кремниевые поверхностные барьерные детекторы, литий-дрейфовые золото-кремниевые поверхностные барьерные датчики и планарные полупроводниковые детекторы кремниевого типа с пассивацией ионной имплантацией для обнаружения заряженных частиц.
GB/T 5201-1994 История
- 2012 GB/T 5201-2012 Процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц
- 1994 GB/T 5201-1994 Процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц
