DIN EN 60749-40:2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011. - Стандарты и спецификации PDF

DIN EN 60749-40:2012
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011.

Стандартный №
DIN EN 60749-40:2012
Дата публикации
2012
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN EN 60749-40:2012-02
Последняя версия
DIN EN 60749-40:2012-02
заменять
DIN IEC 60749-40:2009

DIN EN 60749-40:2012 История

  • 2012 DIN EN 60749-40:2012-02 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011.
  • 2012 DIN EN 60749-40:2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011.
  • 0000 DIN IEC 60749-40:2009



© 2023. Все права защищены.