DIN EN 60749-40:2012-02 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011.
2012DIN EN 60749-40:2012-02 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011.
2012DIN EN 60749-40:2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика (IEC 60749-40:2011); Немецкая версия EN 60749-40:2011.