IEC 60749-29:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 29. Испытание на защелкивание
- Стандартный №
- IEC 60749-29:2011
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-29:2011
- заменять
- IEC 47/2083/FDIS:2011 IEC 60749-29:2003
- сфера применения
- «Объем и цель. Эта часть IEC 60749 охватывает I-тест и испытание интегральных схем на фиксацию перенапряжения. Это испытание классифицируется как разрушающее. Целью этого испытания является установление метода определения фиксации интегральной схемы (ИС). характеристики и определить критерии отказа фиксации. Характеристики фиксации используются для определения надежности продукта и минимизации отказов типа «неисправность не обнаружена» (NTF) и «электрического перенапряжения» (EOS) из-за блокировки. Метод испытаний в первую очередь применим к КМОП-устройствам. Необходимо установить применимость к другим технологиям. Классификация фиксации как функции температуры определена в 3.1, а критерии уровня отказа определены в 3.2"
IEC 60749-29:2011 История
- 2011 IEC 60749-29:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 29. Испытание на защелкивание
- 2003 IEC 60749-29:2003 Dispositifs à semiconducteurs Méthodes d?essais mécaniques et climatiques Partie 29: Essai de verrouillage (издание 1.0; заменяет IEC PAS 62181)
