IEC 60749-29:2003
Dispositifs à semiconducteurs Méthodes d?essais mécaniques et climatiques Partie 29: Essai de verrouillage (издание 1.0; заменяет IEC PAS 62181)

Стандартный №

IEC 60749-29:2003

Дата публикации

2003

Разместил

IEC - International Electrotechnical Commission

состояние

быть заменен 2011-04

быть заменен

IEC 60749-29:2011

Последняя версия

IEC 60749-29:2011

сфера применения

Охватывает I-тест и испытание интегральных схем на фиксацию перенапряжения. Целью этого испытания является разработка метода определения характеристик фиксации интегральной схемы и определение критериев отказа фиксации.

IEC 60749-29:2003 История

• 2011 IEC 60749-29:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 29. Испытание на защелкивание
• 2003 IEC 60749-29:2003 Dispositifs à semiconducteurs Méthodes d?essais mécaniques et climatiques Partie 29: Essai de verrouillage (издание 1.0; заменяет IEC PAS 62181)