IEC 60749-23:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
- Стандартный №
- IEC 60749-23:2011
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
- Последняя версия
- IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
IEC 60749-23:2011 История
- 2011 IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
- 2011 IEC 60749-23:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
- 2004 IEC 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
