IEC 60749-23:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

Стандартный №

IEC 60749-23:2004

Дата публикации

2004

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 60749-23:2011

Последняя версия

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

заменять

IEC 47/1735/FDIS:2003

сфера применения

Этот тест используется для определения влияния условий смещения и температуры на твердотельные устройства с течением времени. Он моделирует рабочее состояние устройства в ускоренном режиме и в первую очередь используется для квалификации устройства и контроля надежности.

IEC 60749-23:2004 История

• 2011 IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• 2011 IEC 60749-23:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• 2004 IEC 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.