IEC 60747-15:2010 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 15. Изолированные силовые полупроводниковые приборы. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60747-15:2010
Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 15. Изолированные силовые полупроводниковые приборы.

Стандартный №
IEC 60747-15:2010
Дата публикации
2010
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 60747-15:2010
заменить на
ANSI/NFPA 96:2013
заменять
IEC 47E/403/FDIS:2010 IEC 60747-15:2003
сфера применения
В этой части IEC 60747 приведены требования к изолированным силовым полупроводниковым устройствам, за исключением устройств со встроенными цепями управления. Эти требования являются дополнительными к требованиям, приведенным в других частях IEC 60747 для соответствующих неизолированных силовых устройств.

IEC 60747-15:2010 Ссылочный документ

  • IEC 60270 Методы испытаний высоким напряжением. Измерения частичных разрядов*2015-11-01 Обновление
  • IEC 60664-1:2007 Согласование изоляции оборудования низковольтных систем. Часть 1. Принципы, требования и испытания.
  • IEC 60721-3-3:1994  Классификация условий окружающей среды. Часть 3. Классификация групп параметров окружающей среды и их степени тяжести; раздел 3: Стационарное использование в защищенных от атмосферных воздействий местах.
  • IEC 60747-1:2006 Полупроводниковые приборы. Часть 1: Общие сведения
  • IEC 60747-2 Полупроводниковые приборы. Часть 2. Дискретные устройства. Выпрямительные диоды.*2016-04-01 Обновление
  • IEC 60747-6 Полупроводниковые приборы. Часть 6: Тиристоры*2016-04-01 Обновление
  • IEC 60747-7 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 7. Биполярные транзисторы.*2023-11-09 Обновление
  • IEC 60747-8 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 8. Полевые транзисторы.*2023-11-09 Обновление
  • IEC 60747-9 Полупроводниковые приборы. Часть 9. Дискретные устройства. Биполярные транзисторы с изолированным затвором (IGBT).*2019-11-13 Обновление
  • IEC 60749-5 *2023-09-29 Обновление
  • IEC 60749-6 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.*2017-03-01 Обновление

IEC 60747-15:2010 История

  • 2010 IEC 60747-15:2010 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 15. Изолированные силовые полупроводниковые приборы.
  • 2003 IEC 60747-15:2003 Дискретные полупроводниковые приборы. Часть 15. Изолированные силовые полупроводниковые приборы.



© 2023. Все права защищены.