ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
Настоящий международный стандарт определяет процедуру калибровки, применимую к изображениям, записанным в широком диапазоне увеличений в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). Эталонные материалы, используемые для калибровки, обладают периодической структурой, такой как копия дифракционной решетки, сверхрешетчатая структура полупроводника или анализирующий кристалл для рентгеновского анализа, а также изображение кристаллической решетки углерода, золота или кремния. Настоящий международный стандарт применим к увеличению изображения, полученного с помощью ПЭМ, записанного на фотопленку или визуальную пластинку или обнаруженного датчиком изображения, встроенным в цифровую камеру. Настоящий международный стандарт также относится к калибровке масштабной линейки. Настоящий международный стандарт не распространяется на специальные ПЭМ для измерения критических размеров (CD-TEM) и сканирующие трансмиссионные электронные микроскопы (STEM).
ISO 29301:2010 Ссылочный документ
ISO Guide 30:1992 Термины и определения, используемые в отношении справочных материалов
ISO Guide 34:2000 Общие требования к компетентности производителей стандартных образцов
ISO Guide 35:2006 Справочные материалы. Общие и статистические принципы сертификации.
ISO/IEC 17025:2005 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий
ISO/IEC Guide 98-3:2008 Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерения (GUM:1995).
ISO 29301:2010 История
2023ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
2017ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
2010ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.