IEEE 1149.7-2009
Порт доступа к тестированию с уменьшенным числом контактов и расширенной функциональностью, а также архитектура периферийного сканирования.
- Стандартный №
- IEEE 1149.7-2009
- Дата публикации
- 2009
- Разместил
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- состояние
- быть заменен
- IEEE 1149.7-2022
- Последняя версия
- IEEE 1149.7-2022
IEEE 1149.7-2009 История
- 1970 IEEE 1149.7-2022 Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
- 2009 IEEE 1149.7-2009 Порт доступа к тестированию с уменьшенным числом контактов и расширенной функциональностью, а также архитектура периферийного сканирования.
