IEEE 1149.7-2022
Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования

Стандартный №

IEEE 1149.7-2022

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Последняя версия

IEEE 1149.7-2022

IEEE 1149.7-2022 История

• 1970 IEEE 1149.7-2022 Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
• 2009 IEEE 1149.7-2009 Порт доступа к тестированию с уменьшенным числом контактов и расширенной функциональностью, а также архитектура периферийного сканирования.