JIS K 0190:2010
Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.

Стандартный №

JIS K 0190:2010

Дата публикации

2010

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS K 0190:2010

JIS K 0190:2010 Ссылочный документ

• ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.

JIS K 0190:2010 История

• 2010 JIS K 0190:2010 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.