ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
Этот стандарт представляет собой стандартный метод идентификации элементов и подтверждения присутствия конкретных элементов с использованием точечного зонда или спектрометра в сканирующем электронном микроскопе для получения рентгеновского спектра в пределах определенного объема (в масштабе мкм) образец.
ISO 17470:2004 История
2014ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
2004ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.