IEC 60749-33:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 33. Повышенная влагостойкость. Непредвзятый автоклав (издание 1.0; заменяет IEC PAS 62172:2000).
- Стандартный №
- IEC 60749-33:2004
- Дата публикации
- 2004
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-33:2005
- Последняя версия
- IEC 60749-33:2005
- сфера применения
- Область применения и цель Непредвзятое автоклавное испытание проводится для оценки целостности влагостойкости негерметичных упакованных полупроводниковых устройств в средах с конденсацией влаги или паром, насыщенным влагой. Это ускоренное испытание, в котором используются условия давления, влажности и температуры в условиях конденсации для ускорения проникновения влаги через внешний защитный материал (герметик или уплотнение) или вдоль границы раздела между внешним защитным материалом и металлическими проводниками, проходящими через него. Этот тест используется для выявления внутренних механизмов отказа пакета и является разрушительным.
IEC 60749-33:2004 История
- 2005 IEC 60749-33:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 33. Ускоренная влагостойкость. Непредвзятый автоклав.
- 2004 IEC 60749-33:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 33. Повышенная влагостойкость. Непредвзятый автоклав (издание 1.0; заменяет IEC PAS 62172:2000).
