IEC 60749-33:2005
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 33. Ускоренная влагостойкость. Непредвзятый автоклав.

Стандартный №

IEC 60749-33:2005

Дата публикации

2005

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-33:2005

заменять

IEC 47/1737/FDIS:2003 IEC 60749-33:2004 IEC/PAS 62172:2000

сфера применения

Непредвзятое автоклавное испытание проводится для оценки целостности влагостойкости негерметично упакованных полупроводниковых устройств в средах с конденсацией влаги или паром, насыщенным влагой. Это высоко ускоренный тест, в котором используются условия

IEC 60749-33:2005 История

• 2005 IEC 60749-33:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 33. Ускоренная влагостойкость. Непредвзятый автоклав.
• 2004 IEC 60749-33:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 33. Повышенная влагостойкость. Непредвзятый автоклав (издание 1.0; заменяет IEC PAS 62172:2000).