GB/T 16594-2008
Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 16594-2008
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2008
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 16594-2008
- заменять
- GB/T 16594-1996
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет применимые принципы измерения длин микронных размеров с помощью сканирующей электронной микроскопии. Подходит для измерения длины (0,5–10) мкм.
GB/T 16594-2008 Ссылочный документ
- JJF 1001-1998 Общие термины метрологии и их определения
- JJF 1059-1999 Оценка и выражение неопределенности измерений
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
GB/T 16594-2008 История
- 2008 GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
- 1996 GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
