Существенные особенности типичны для обсуждения ограничений метода. Благодаря описанию и устройству, приведенным в следующих частях данного метода испытаний, прибор будет непосредственно регистрировать нормальный спектральный коэффициент излучения образца. Однако в пределах допустимого допуска должны соблюдаться следующие условия: Эффективные температуры образца и абсолютно черного тела должны отличаться друг от друга в пределах 1 К. Однако возникают практические ограничения, поскольку однородность температуры часто не превышает нескольких градусов Кельвина. Длина оптического пути в двух лучах должна быть одинаковой, или прибор должен работать в непоглощающей атмосфере или вакууме, чтобы исключить эффекты дифференциального атмосферного поглощения в двух лучах. Измерения на воздухе во многих случаях важны и не обязательно дадут те же результаты, что и в вакууме, поэтому равенство оптических путей для двухлучевых приборов становится очень важным. Примечание 38212; Требуется очень тщательная оптическая юстировка спектрофотометра, чтобы свести к минимуму различия в поглощении на двух путях прибора, а также тщательная настройка синхронизации прерывателя для уменьшения «перекрестных помех»; (перекрытие сигналов эталона и образца), а также меры предосторожности по уменьшению паразитного излучения в спектрометре необходимы для поддержания ровной нулевой линии. При наилучшей настройке линия &#“100 %&#” будет неизменным с точностью до 3 %; оба этих измерения должны быть воспроизводимыми в этих пределах (см. 7.3, примечание 6). Зеркальная оптика на передней поверхности должна использоваться повсюду, за исключением призмы в призменных монохроматорах и решетки в решеточных монохроматорах, и следует подчеркнуть, что в двух лучах должны использоваться эквивалентные оптические элементы, чтобы уменьшить и сбалансировать затухание лучей. за счет поглощения в оптических элементах. Оптические поверхности рекомендуется очищать от покрытий SiO2 и SiO; MgF2 можно использовать для стабилизации зеркальных поверхностей в течение длительного периода времени. Оптические характеристики этих покрытий имеют решающее значение, но их можно ослабить, если во время измерений все оптические пути фиксированы или углы падения не изменяются между режимами работы (во время &#“0 % линии,&#” «100% линия» и выборочные измерения). Рекомендуется, чтобы все оптические элементы были достаточно наполнены энергией. Апертуры источника и поля двух лучей должны быть равны, чтобы гарантировать, что лучистый поток в двух сравниваемых аппаратом лучах будет относиться к равным площадям источников и равным телесным углам излучения. В некоторых случаях может быть желательно определить телесный угол источника и образца при сравнении альтернативных методов измерения. Отклик системы детектор-усилитель должен изменяться линейно в зависимости от падающего потока излучения.1.1 Этот метод испытаний описывает высокоточный метод измерения нормального спектрального коэффициента эмиттанса электропроводящих материалов или материалов с электропроводящими подложками в диапазоне температур от 600 до 1400 К, и на длинах волн от 1 до 35 мкм. 1.2 Метод испытаний требует дорогостоящего оборудования и довольно тщательно продуманных мер предосторожности, но дает данные с точностью до нескольких процентов. Он подходит для исследовательских лабораторий, где требуется высочайшая точность и аккуратность, но не рекомендуется для рутинного производства или приемочных испытаний. Однако из-за своей высокой точности этот метод испытаний может использоваться в качестве контрольного метода для применения в производстве....
ASTM E307-72(2008) История
2019ASTM E307-72(2019) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(2014) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(2008) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(2002) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(1996)e1 Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах