1.1 Настоящий метод испытаний описывает высокоточный метод измерения нормального спектрального коэффициента эмиттанса электропроводящих материалов или материалов с электропроводящими подложками в диапазоне температур от 600 до 1400 К и на длинах волн от 1 до 35 956 м.1.2 Испытание Этот метод требует дорогостоящего оборудования и довольно сложных мер предосторожности, но дает данные с точностью до нескольких процентов. Он подходит для исследовательских лабораторий, где требуется высочайшая точность и аккуратность, но не рекомендуется для рутинного производства или приемочных испытаний. Однако из-за своей высокой точности этот метод испытаний может использоваться в качестве контрольного метода при производстве и приемочных испытаниях в спорных случаях. 1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные. Значения в скобках предназначены только для информации. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E307-72(2002) История
2019ASTM E307-72(2019) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(2014) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(2008) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(2002) Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах
1972ASTM E307-72(1996)e1 Стандартный метод испытаний нормального спектрального эмиттанса при повышенных температурах