1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение установившегося первичного фототока Ipp, генерируемого в полупроводниковых устройствах, когда эти устройства подвергаются воздействию ионизирующего излучения. Эти процедуры предназначены для измерения фототоков, превышающих 10-9 As/Gy(Si или Ge), в случаях, когда время релаксации измеряемого устройства составляет менее 25% ширины импульса ионизирующего источника. Была установлена применимость этих процедур для мощностей ионизирующих доз до 108 Гр(Si или Ge)/с. Эти процедуры можно использовать для измерений при мощности дозы до 1010 Гр(Si или Ge)/с; однако необходимо соблюдать особую осторожность. При нагрузках выше 108 Гр/с отклик корпуса может доминировать над откликом устройства для таких технологий, как комплементарный металл-оксид-полупроводник (КМОП)/кремний-на-сапфире (SOS). Дополнительные меры предосторожности также необходимы при измерении фототоков 10-9 As/Gy(Si или Ge) или ниже. 1.2. В данный метод испытаний также включены процедуры настройки, калибровки и оценки испытательной схемы. 1.3 Из-за различий между типами устройств и требований различных применений диапазон мощности дозы, в котором должно проводиться какое-либо конкретное испытание, в данном методе испытаний не указан, а должен указываться отдельно. 1.4 Значения, указанные в Международной системе единиц (СИ), считаются стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM F448-99 История
2018ASTM F448-18 Стандартный метод измерения стационарного первичного фототока
2011ASTM F448-11 Метод испытаний для измерения стационарного первичного фототока
1999ASTM F448-99(2005) Метод испытаний для измерения стационарного первичного фототока
1999ASTM F448-99 Метод испытаний для измерения стационарного первичного фототока