1.1 Настоящий стандарт состоит из терминов и определений, относящихся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках, например, используемых в материалах микроэлектромеханических систем (МЭМС). В частности, эти условия связаны со стандартами раздела , разработанными Комитетом E08 по усталости и разрушениям. К настоящему стандарту применима терминология E 1823, касающаяся испытаний на усталость и разрушение. 1.2 Термины перечислены в алфавитном порядке.
ASTM E2444-05e1 История
2018ASTM E2444-11(2018) Стандартная терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
2011ASTM E2444-11e1 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
2011ASTM E2444-11 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
2005ASTM E2444-05e1 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
2005ASTM E2444-05 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках