1.1 В настоящем руководстве определены подробные требования к испытаниям микросхем на отказ в результате короткоимпульсной ионизации с высокой мощностью дозы. Требуются большие импульсные рентгеновские аппараты (FXR), работающие в фотонном режиме, или установки электронного луча FXR из-за высоких уровней мощности дозы, которые необходимы, чтобы вызвать выгорание. Возможны два режима испытаний (1) тест на выживаемость и (2) тест на уровень отказа. 1.2 Значения, указанные в Международной системе единиц (СИ), следует рассматривать как стандартные. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены.
ASTM F1893-98 История
2018ASTM F1893-18 Руководство по измерению живучести ионизирующей дозы и выгорания полупроводниковых приборов
2011ASTM F1893-11 Руководство по измерению живучести ионизирующей дозы и выгорания полупроводниковых приборов
1998ASTM F1893-98(2003) Руководство по измерению мощности ионизирующей дозы выгорания полупроводниковых приборов
1998ASTM F1893-98 Руководство по измерению мощности ионизирующей дозы выгорания полупроводниковых приборов