1.1 Настоящий метод испытаний описывает точную методику измерения нормального спектрального эмиттанса электронепроводящих материалов в диапазоне температур от 1000 до 1800 К и на длинах волн от 1 до 35 мкм. Он особенно подходит для измерения нормального спектрального коэффициента эмиттанса таких материалов, как керамические оксиды, которые имеют относительно низкую теплопроводность и полупрозрачны на значительной глубине (несколько миллиметров) под поверхностью, но которые становятся практически непрозрачными при толщине 10 мм или меньше. 1.2 Этот метод испытаний требует дорогостоящего оборудования и довольно тщательно продуманных мер предосторожности, но дает данные с точностью до нескольких процентов. Он особенно подходит для исследовательских лабораторий, где требуется высочайшая точность и точность, и не рекомендуется для рутинного производства или приемочных испытаний. Благодаря высокой точности этот метод испытаний может использоваться в качестве эталонного метода для применения при производстве и приемочных испытаниях в случае возникновения спорных вопросов. 1.3 Этот метод испытаний требует использования образца определенного размера и конфигурации, а также специального нагревания и наблюдения. техника. Детали конструкции печи для критических образцов представлены в ссылке (1), и использование печи такой конструкции необходимо для соблюдения данного метода испытаний. Оптика переноса и спектрофотометр обсуждаются в общих чертах. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E423-71(1996)e1 История
2019ASTM E423-71(2019) Стандартный метод испытания нормального спектрального эмиттанса непроводящих образцов при повышенных температурах
1971ASTM E423-71(2014) Стандартный метод испытания нормального спектрального эмиттанса непроводящих образцов при повышенных температурах
1971ASTM E423-71(2008) Стандартный метод испытания нормального спектрального эмиттанса непроводящих образцов при повышенных температурах
1971ASTM E423-71(2002) Стандартный метод испытания нормального спектрального эмиттанса непроводящих образцов при повышенных температурах
1971ASTM E423-71(1996)e1 Стандартный метод испытания нормального спектрального эмиттанса непроводящих образцов при повышенных температурах