IEC 60749-11:2002/COR1:2003
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
- Стандартный №
- IEC 60749-11:2002/COR1:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- Последняя версия
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- сфера применения
- Это техническое исправление 1 к IEC 60749-11-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны).
IEC 60749-11:2002/COR1:2003 История
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны; Исправление 2
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
- 2002 IEC 60749-11:2002 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
