IEC 60749-8:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация
Стартовая страница
IEC 60749-8:2002/COR1:2003
Стандартный №
IEC 60749-8:2002/COR1:2003
Дата публикации
2003
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
быть заменен
быть заменен
IEC 60749-8:2002/COR2:2003
Последняя версия
IEC 60749-8:2002/COR2:2003
сфера применения
Это техническое исправление 1 к IEC 60749-8-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация).
IEC 60749-8:2002/COR1:2003 История
2003
IEC 60749-8:2002/COR2:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация
2003
IEC 60749-8:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация
2002
IEC 60749-8:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация
© 2023. Все права защищены.