IEC 60749-7/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
Это техническое исправление 1 к IEC 60749-7-2002 (Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов).
IEC 60749-7/COR1:2003 История
2011IEC 60749-7:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
2003IEC 60749-7/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
2002IEC 60749-7:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
IEC 60749-7/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов. было изменено на IEC 60749-7:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов..