IEC 60749-7:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
- Стандартный №
- IEC 60749-7:2002
- Дата публикации
- 2002
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- 2011-06
- быть заменен
- IEC 60749-7/COR1:2003
- Последняя версия
- IEC 60749-7:2011
- сфера применения
- Целью данной части IEC 60749 является испытание и измерение содержания водяного пара и других газов в атмосфере внутри металлического или керамического герметично закрытого устройства. Он применим к полупроводниковым устройствам, запечатанным таким образом, но обычно используется только для приложений с высокой надежностью, таких как военная или аэрокосмическая промышленность. Он может быть разрушительным (методы 1 и 2) или неразрушающим (метод 3).
IEC 60749-7:2002 История
- 2011 IEC 60749-7:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
- 2003 IEC 60749-7/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
- 2002 IEC 60749-7:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
