IEC 60749-31:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная)
Это техническое исправление 1 к IEC 60749-31-2002 (Полупроводниковые устройства - Методы механического и климатического исследования - Часть 31: Воспламеняемость инкапсуляционных пластиковых устройств (cas d'une Cause Interne d'Inflammation))
IEC 60749-31:2002/COR1:2003 История
2003IEC 60749-31:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная)
2002IEC 60749-31:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная)