IEC 60749-31:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная) - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60749-31:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная)

Стандартный №
IEC 60749-31:2002/COR1:2003
Дата публикации
2003
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 60749-31:2002/COR1:2003
сфера применения
Это техническое исправление 1 к IEC 60749-31-2002 (Полупроводниковые устройства - Методы механического и климатического исследования - Часть 31: Воспламеняемость инкапсуляционных пластиковых устройств (cas d'une Cause Interne d'Inflammation))

IEC 60749-31:2002/COR1:2003 История

  • 2003 IEC 60749-31:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная)
  • 2002 IEC 60749-31:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная)



© 2023. Все права защищены.