IEC 60749-6:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
- Стандартный №
- IEC 60749-6:2002/COR1:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- 2017-03
- быть заменен
- IEC 60749-6:2017
- Последняя версия
- IEC 60749-6:2017
- сфера применения
- Это техническое исправление 1 к IEC 60749-6-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6: Хранение при высокой температуре).
IEC 60749-6:2002/COR1:2003 История
- 2017 IEC 60749-6:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
- 2003 IEC 60749-6:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
- 2002 IEC 60749-6:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
