IEC 60749-17:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение

Стандартный №

IEC 60749-17:2003

Дата публикации

2003

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2019-03

быть заменен

IEC 60749-17:2019

Последняя версия

IEC 60749-17:2019

заменять

IEC 47/1668/FDIS:2002

сфера применения

Используется для определения подверженности полупроводниковых приборов деградации в нейтронной среде. Применимо к интегральным схемам и дискретным полупроводниковым устройствам.

IEC 60749-17:2003 История

• 2019 IEC 60749-17:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mecaniques et climatiques - Игра 17: Облучение нейтронами (издание 2.0)
• 2003 IEC 60749-17:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение