IEC 60749-17:2019
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mecaniques et climatiques - Игра 17: Облучение нейтронами (издание 2.0)
- Стандартный №
- IEC 60749-17:2019
- Дата публикации
- 2019
- Разместил
- IEC - International Electrotechnical Commission
- Последняя версия
- IEC 60749-17:2019
- сфера применения
- Испытание нейтронным облучением проводится для определения восприимчивости полупроводниковых устройств к деградации неионизирующих потерь энергии (NIEL). Описанный здесь тест применим к интегральным схемам и дискретным полупроводниковым устройствам и предназначен для приложений, связанных с военной и аэрокосмической отраслью. Это разрушительное испытание. Цели испытания заключаются в следующем: а) обнаружить и измерить ухудшение критических параметров полупроводникового устройства в зависимости от флюенса нейтронов@ и б) определить, находятся ли указанные параметры полупроводникового устройства в заданных пределах после воздействия заданного уровня флюенс нейтронов (см. раздел 6).
IEC 60749-17:2019 История
- 2019 IEC 60749-17:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mecaniques et climatiques - Игра 17: Облучение нейтронами (издание 2.0)
- 2003 IEC 60749-17:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение
