В этом PAS описан метод измерения диэлектрических свойств в плоском направлении диэлектрической пластины на СВЧ-частоте с целью разработки новых материалов и проектирования СВЧ-активных и пассивных устройств. Этот метод называется методом резонатора. Этот метод имеет следующие характеристики: ? значения относительной диэлектрической проницаемости ε' и тангенса потерь tan δ образца диэлектрической пластины могут быть измерены точно и неразрушающим способом; ? можно измерить температурную зависимость комплексной диэлектрической проницаемости; ? точность измерения - в пределах 0,3% для ε' и в пределах 5×10-6 для tan δ; ? Эффект окантовки корректируется с помощью корректирующих диаграмм, рассчитанных на основе тщательного анализа. Этот метод применим для измерений в следующих условиях: ? частота: 2 ГГц < f < 40 ГГц; ? относительная диэлектрическая проницаемость: 2 < ε' < 100; ? Тангенс потерь: 10–6 < tan δ < 10–2.
IEC PAS 62562:2008 История
2008IEC PAS 62562:2008 Метод резонатора для измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектрических пластин с малыми потерями
IEC PAS 62562:2008 Метод резонатора для измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектрических пластин с малыми потерями было изменено на IEC 62562:2010 Метод резонатора для измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектрических пластин с малыми потерями.