IEC 62562:2010
Метод резонатора для измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектрических пластин с малыми потерями

Стандартный №

IEC 62562:2010

Дата публикации

2010

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62562:2010

заменять

IEC 46F/118/CDV:2009 IEC/PAS 62562:2008

сфера применения

Целью настоящего международного стандарта является описание метода измерения диэлектрических свойств в плоском направлении диэлектрической пластины на микроволновой частоте. Этот метод называется методом резонатора. Он создан с целью разработки новых материалов и проектирования активных и пассивных СВЧ-приборов, для которых все большее значение приобретает стандартизация методов измерения свойств материалов. Этот метод имеет следующие характеристики: относительная диэлектрическая проницаемость ?? и значения тангенса потерь образца диэлектрической пластины могут быть измерены точно и неразрушающим способом; ? можно измерить температурную зависимость комплексной диэлектрической проницаемости; ? точность измерения находится в пределах 0@3 % для ??' и в пределах 5??10?C6 для загара??; ? Эффект окантовки корректируется с помощью корректирующих диаграмм, рассчитанных на основе тщательного анализа. Этот метод применим для измерений при следующих условиях: частота ?C: 2 ГГц менее 40 ГГц; ?C относительная диэлектрическая проницаемость: 2меньше чем?? менее 100; ?Тангенс угла потерь: 10?C6меньше, чемтан??меньше, чем10-2.

IEC 62562:2010 История

• 2010 IEC 62562:2010 Метод резонатора для измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектрических пластин с малыми потерями