GB/T 20724-2006
Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 20724-2006
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2006
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2022-07
- быть заменен
- GB/T 20724-2021
- Последняя версия
- GB/T 20724-2021
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет метод дифракции электронов сходящимся пучком для определения толщины тонких кристаллических образцов с помощью просвечивающей электронной микроскопии. Этот метод пригоден для измерения толщины тонких кристаллов с линейным размером от 10-9м до ×10-3м и толщиной от десятков до сотен нанометров.
GB/T 20724-2006 Ссылочный документ
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 20724-2006 История
- 2021 GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.
- 2006 GB/T 20724-2006 Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов
