IEC 61788-7:2006 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах - Стандарты и спецификации PDF

IEC 61788-7:2006
Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах

Стандартный №
IEC 61788-7:2006
Дата публикации
2006
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
быть заменен
IEC 61788-7:2020 RLV
Последняя версия
IEC 61788-7:2020 RLV
заменять
IEC 90/193/FDIS:2006 IEC 61788-7:2002
сфера применения
В этой части IEC 61788 описывается измерение поверхностного сопротивления сверхпроводников на микроволновых частотах стандартным методом двух резонаторов. Объектом измерения является температурная зависимость Rs на резонансной частоте. Применимый диапазон измерения поверхностного сопротивления для этого метода следующий:  ——Частота: 8 ГГц < f < 30 ГГц – Разрешение измерения: 0,01 мОм на частоте 10 ГГц. Данные поверхностного сопротивления на измеренной частоте, масштабированные до 10 ГГц. , принимая во внимание правило f 2 для сравнения.

IEC 61788-7:2006 История

  • 0000 IEC 61788-7:2020 RLV
  • 2006 IEC 61788-7:2006 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах
  • 2002 IEC 61788-7:2002 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик; Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах



© 2023. Все права защищены.