IEC 61788-7:2006 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах
В этой части IEC 61788 описывается измерение поверхностного сопротивления сверхпроводников на микроволновых частотах стандартным методом двух резонаторов. Объектом измерения является температурная зависимость Rs на резонансной частоте. Применимый диапазон измерения поверхностного сопротивления для этого метода следующий:
——Частота: 8 ГГц < f < 30 ГГц – Разрешение измерения: 0,01 мОм на частоте 10 ГГц. Данные поверхностного сопротивления на измеренной частоте, масштабированные до 10 ГГц. , принимая во внимание правило f 2 для сравнения.
IEC 61788-7:2006 История
0000 IEC 61788-7:2020 RLV
2006IEC 61788-7:2006 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах
2002IEC 61788-7:2002 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик; Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах