IEC 61788-7:2002
Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик; Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах

Стандартный №

IEC 61788-7:2002

Дата публикации

2002

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2006-10

быть заменен

IEC 61788-7:2006

Последняя версия

IEC 61788-7:2020 RLV

сфера применения

В этой части IEC 61788 описывается измерение поверхностного сопротивления сверхпроводников на микроволновых частотах стандартным методом двух резонаторов. Объектом измерения является температурная зависимость RS на резонансной частоте. Применимый диапазон измерения поверхностного сопротивления для этого метода следующий: 　——Частота: 8 ГГц.

IEC 61788-7:2002 История

• 0000 IEC 61788-7:2020 RLV
• 2006 IEC 61788-7:2006 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах
• 2002 IEC 61788-7:2002 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик; Поверхностное сопротивление сверхпроводников на микроволновых частотах