JIS K 3850-1:2006
Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

Стандартный №

JIS K 3850-1:2006

Дата публикации

2006

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS K 3850-1:2006

заменять

JIS K 3850-1:2000

сфера применения

Настоящий стандарт определяет методы измерения переносимых по воздуху волокнистых частиц. В воздухе плавает множество типов волокнистых частиц, и в зависимости от типа используют фазово-контрастный микроскоп, фазово-контрастный/дисперсионный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп или просвечивающий электронный микроскоп. контрастные/дисперсионные микроскопы и сканирующие электронные микроскопы.

JIS K 3850-1:2006 Ссылочный документ

• JIS A 1481 Определение асбеста в изделиях из строительных материалов*， 2008-06-20 Обновление
• JIS B 7551 Расходомеры переменного сечения
• JIS K 3802 Технические термины для мембран и мембранных процессов*， 2015-08-20 Обновление
• JIS K 8034 Ацетон
• JIS R 3702 Покровные стекла для микроскопов

JIS K 3850-1:2006 История

• 2006 JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• 2000 JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.