JIS K 3850-1:2000
Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

Стандартный №

JIS K 3850-1:2000

Дата публикации

2000

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

состояние

снять со счета 2006-10

быть заменен

JIS K 3850-1:2006

Последняя версия

JIS K 3850-1:2006

JIS K 3850-1:2000 История

• 2006 JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• 2000 JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.