IEC 60749-34:2005
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания

Стандартный №

IEC 60749-34:2005

Дата публикации

2005

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2010-10

быть заменен

IEC 60749-34:2010

Последняя версия

IEC 60749-34:2010

сфера применения

Используется для определения устойчивости полупроводникового устройства к тепловым и механическим нагрузкам из-за циклического рассеивания мощности внутреннего полупроводникового кристалла и внутренних разъемов. Это происходит, когда низковольтные рабочие смещения для прямого проводника

IEC 60749-34:2005 История

• 2010 IEC 60749-34:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания
• 2005 IEC 60749-34:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания
• 2004 IEC 60749-34:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания