IEEE Std 1149.7-2022
Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования

Стандартный №

IEEE Std 1149.7-2022

Дата публикации

2022

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Последняя версия

IEEE Std 1149.7-2022

сфера применения

В этом стандарте описаны схемы, которые могут быть добавлены в интегральную схему для обеспечения доступа к встроенным портам тестового доступа (TAP), указанным в стандарте IEEE Std 1149.1. Схема использует стандарт IEEE Std 1149.1 в качестве основы, обеспечивая полную обратную совместимость, а также активно добавляя функции для поддержки тестирования и отладки приложений. Он определяет шесть классов портов тестового доступа IEEE 1149.7 (TAP....

IEEE Std 1149.7-2022 История

• 2022 IEEE Std 1149.7-2022 Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
• 2010 IEEE Std 1149.7-2009 Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования