IEEE Std 1149.7-2009
Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
- Стандартный №
- IEEE Std 1149.7-2009
- Дата публикации
- 2010
- Разместил
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- состояние
- 2022-10
- быть заменен
- IEEE Std 1149.7-2022
- Последняя версия
- IEEE Std 1149.7-2022
- сфера применения
- В этой спецификации описаны схемы, которые могут быть добавлены в интегральную схему для обеспечения доступа к встроенным портам тестового доступа (TAP), указанным в стандарте IEEE Std 1149.1¿-2001. Схема использует IEEE 1149.1-2001 в качестве основы, обеспечивая полную обратную совместимость, а также активно добавляя функции для поддержки тестирования и отладки приложений. Он определяет шесть классов портов тестового доступа 1149.7 (TAP...
IEEE Std 1149.7-2009 История
- 2022 IEEE Std 1149.7-2022 Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
- 2010 IEEE Std 1149.7-2009 Стандарт IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
