Данная Рекомендуемая практика SAE определяет метод оценки ближней электрической или магнитной составляющей электромагнитного поля на поверхности интегральной схемы (ИС). Этот метод способен предоставить подробную картину источников радиочастотных сигналов внутри микросхемы. Разрешение диаграммы определяется характеристиками используемых датчиков и точностью механического позиционера датчиков. Этот метод можно использовать в диапазоне частот от 10 МГц до 3 ГГц с использованием существующей технологии зондов. Зонд механически сканируется в соответствии с запрограммированным шаблоном в плоскости, параллельной или перпендикулярной поверхности ИС, а данные обрабатываются на компьютере для обеспечения цветного представления напряженности поля на частоте сканирования. Эта процедура применима к измерениям с помощью микросхемы, установленной на любой печатной плате, доступной для сканирующего зонда. Для сравнений следует использовать стандартизированную испытательную плату.
SAE J1752/2-2003 История
2016SAE J1752/2-2016 Измерение излучений интегральных схем — метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда) от 10 МГц до 3 ГГц
2011SAE J1752/2-2011 Измерение излучений интегральных схем — метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда) от 10 МГц до 3 ГГц
2003SAE J1752/2-2003 Измерение излучений интегральных схем — метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда), от 10 МГц до 3 ГГц
1995SAE J1752/2-1995 Измерение излучений интегральных схем — метод сканирования поверхности (метод петлевого зонда) от 10 МГц до 3 ГГц