SAE J1752-2-2016 Измерение излучаемых излучений интегральных схем — метод сканирования поверхности (метод петлевого зонда), от 10 МГц до 3 ГГц - Стандарты и спецификации PDF

SAE J1752-2-2016
Измерение излучаемых излучений интегральных схем — метод сканирования поверхности (метод петлевого зонда), от 10 МГц до 3 ГГц

Стандартный №
SAE J1752-2-2016
Дата публикации
2016
Разместил
SAE - SAE International
Последняя версия
SAE J1752-2-2016
сфера применения
Данная Рекомендуемая практика SAE определяет метод оценки ближней электрической или магнитной составляющей электромагнитного поля на поверхности интегральной схемы (ИС). Этот метод способен предоставить подробную картину источников радиочастотных сигналов внутри микросхемы. Разрешение диаграммы определяется характеристиками используемых датчиков и точностью механического позиционера датчиков. Этот метод можно использовать в диапазоне частот от 10 МГц до 3 ГГц с использованием существующей технологии зондов. Зонд механически сканируется в соответствии с запрограммированным шаблоном в плоскости, параллельной или перпендикулярной поверхности ИС, а данные обрабатываются на компьютере для обеспечения цветного представления напряженности поля на частоте сканирования. Эта процедура применима к измерениям с помощью микросхемы, установленной на любой печатной плате, доступной для сканирующего зонда. Для сравнений следует использовать стандартизированную испытательную плату. Эта диагностическая процедура предназначена для архитектурного анализа микросхем, включая функциональный план и распределение мощности.

SAE J1752-2-2016 История

  • 2016 SAE J1752-2-2016 Измерение излучаемых излучений интегральных схем — метод сканирования поверхности (метод петлевого зонда), от 10 МГц до 3 ГГц
  • 2011 SAE J1752-2-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных схем Метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда) от 10 МГц до 3 ГГц
  • 2003 SAE J1752-2-2003 Измерение излучений интегральных схем Метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда) от 10 МГц до 3 ГГц
  • 1995 SAE J1752-2-1995 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем - Процедура диагностики излучаемого излучения интегральных схем от 1 до 1000 МГц@ Магнитное поле - петлевой зонд@ Рекомендуемая практика (март 1995 г.)



© 2023. Все права защищены.