BS ISO 14606:2022 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Профилирование глубины распыления. Оптимизация с использованием слоистых систем в качестве эталонных материалов
1 Область применения В этом документе приведены рекомендации и требования по оптимизации параметров профиля глубины распыления с использованием соответствующих однослойных и многослойных эталонных материалов для достижения оптимального разрешения по глубине в зависимости от настроек прибора в электронной оже-спектроскопии, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. и масс-спектрометрия вторичных ионов.Этот документ не предназначен для освещения использования специальных многослойных систем, таких как дельта-легированные слои.
BS ISO 14606:2022 История
2023BS ISO 14606:2022 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Профилирование глубины распыления. Оптимизация с использованием слоистых систем в качестве эталонных материалов
2015BS ISO 14606:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование глубины распыления. Оптимизация с использованием слоистых систем в качестве эталонных материалов
2001BS ISO 14606:2000 Химический анализ поверхности. Профилирование глубины распыления. Оптимизация с использованием слоистых систем в качестве эталонных материалов.