IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

Стандартный №

IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

Дата публикации

2011

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV История

• 2011 IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• 2011 IEC 60749-23:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• 2004 IEC 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.