ASTM E3220-20
Стандартное руководство по характеристике чешуек графена

Стандартный №

ASTM E3220-20

Дата публикации

2020

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E3220-20

сфера применения

1.1 Настоящий стандарт содержит рекомендации по методам измерения для оценки размера латеральных чешуек, средней толщины чешуек, соотношения интенсивностей комбинационного рассеяния полос D и G, а также отношения углерода/кислорода для графена и родственных продуктов. Сюда входят методы атомно-силовой микроскопии, рамановской спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Для каждого типа измерений будут приведены примеры. 1.2 Настоящее руководство призвано служить примером для производителей, производителей, аналитиков и других лиц, интересующихся графеном и сопутствующими продуктами, такими как оксид графена и восстановленный оксид графена. Настоящее стандартное руководство не представляет собой исчерпывающий обзор всех возможных методов определения характеристик. 1.3 Настоящее руководство не включает все процедуры подготовки проб для всех возможных материалов и применений. Пользователь должен проверить пригодность для своего конкретного применения. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.6 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E3220-20 Ссылочный документ

• ASTM E2530 Стандартная практика калибровки Z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием моноатомных ступеней Si(111)*， 2023-10-29 Обновление

ASTM E3220-20 История

• 2020 ASTM E3220-20 Стандартное руководство по характеристике чешуек графена