ASTM E1125-16(2020) Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра

Стандартный №: ASTM E1125-16(2020)
Дата публикации: 2020
Разместил: American Society for Testing and Materials (ASTM)
Последняя версия: ASTM E1125-16(2020)

сфера применения: 1.1 Этот метод испытаний предназначен для калибровки и определения характеристик первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов по желаемому эталонному спектральному распределению излучения, такому как таблицы G173. Рекомендуемые физические требования для этих эталонных ячеек описаны в Спецификации E1040. Эталонные элементы в основном используются для определения электрических характеристик фотоэлектрических устройств. 1.2 Первичные фотоэлектрические эталонные элементы калибруются при естественном солнечном свете с использованием относительной квантовой эффективности элемента, относительного спектрального распределения солнечного света и табличного эталонного спектрального распределения освещенности. Выбор эталонного спектрального распределения освещенности остается за пользователем. 1.3 Этот метод испытаний требует использования пиргелиометра, откалиброванного в соответствии с методом испытаний E816, который требует использования пиргелиометра, соответствующего Всемирному радиометрическому эталону (WRR). Таким образом, эталонные ячейки, откалиброванные в соответствии с этим методом испытаний, прослеживаются до WRR. 1.4 Этот метод испытаний используется для калибровки первичных эталонных ячеек; Метод испытаний E1362 может использоваться для калибровки вторичных и непервичных эталонных ячеек (эти термины определены в Терминологии E772). 1.5 Этот метод испытаний применяется только для калибровки фотоэлектрического элемента, который показывает линейную зависимость его тока короткого замыкания от освещенности в предполагаемом диапазоне использования, как определено в Методе испытаний E1143. 1.6 Этот метод испытаний применяется только для калибровки эталонного элемента, изготовленного с одним фотоэлектрическим переходом. 1.7 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.8 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.9 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, изданном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E1125-16(2020) Ссылочный документ

ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM E1040 Стандартные спецификации на физические характеристики наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора
ASTM E1143 Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
ASTM E2554 Стандартная практика оценки и мониторинга неопределенности результатов испытаний метода испытаний с использованием методов контрольных диаграмм
ASTM E490 Таблицы спектральной солнечной радиации стандартной солнечной постоянной и нулевой воздушной массы*， 2022-04-01 Обновление
ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
ASTM E816 Стандартный метод испытаний для калибровки пиргелиометров путем сравнения с эталонными пиргелиометрами
ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
ASTM G138 Стандартный метод испытаний для калибровки спектрорадиометра с использованием стандартного источника излучения
ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*， 2023-03-01 Обновление
ASTM G183 Стандартная практика полевого использования пиранометров, пиргелиометров и УФ-радиометров*， 2023-03-15 Обновление

ASTM E1125-16(2020) История

2020 ASTM E1125-16(2020) Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2016 ASTM E1125-16 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2010 ASTM E1125-10(2015) Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2010 ASTM E1125-10 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2005 ASTM E1125-05 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
1999 ASTM E1125-99 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра