YS/T 679-2018
Измерение длины диффузии неосновных носителей заряда в примесных полупроводниках методом поверхностной фотоэдс (Англоязычная версия)

Стандартный №

YS/T 679-2018

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2018

Разместил

工业和信息化部

Последняя версия

YS/T 679-2018

заменять

YS/T 679-2008

YS/T 679-2018 История

• 2018 YS/T 679-2018 Измерение длины диффузии неосновных носителей заряда в примесных полупроводниках методом поверхностной фотоэдс
• 2008 YS/T 679-2008 Методы определения диффузионной длины неосновных носителей заряда в внешних полупроводниках путем измерения стационарной поверхностной фотоэдс