KS C IEC 62047-22-2016
Полупроводниковые приборы . Микроэлектромеханические устройства . Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб.

Стандартный №

KS C IEC 62047-22-2016

Дата публикации

2016

Разместил

KR-KS

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

Последняя версия

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

KS C IEC 62047-22-2016 История

• 0000 KS C IEC 62047-22-2016(2021)
• 2016 KS C IEC 62047-22-2016 Полупроводниковые приборы . Микроэлектромеханические устройства . Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб.