KS C IEC 62047-22-2016(2021)
Полупроводниковые приборы . Микроэлектромеханические устройства . Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб.

Стандартный №

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

Дата публикации

2016

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Последняя версия

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

KS C IEC 62047-22-2016(2021) История

• 0000 KS C IEC 62047-22-2016(2021)
• 2016 KS C IEC 62047-22:2016 Полупроводниковые приборы . Микроэлектромеханические устройства . Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб.